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周晓明

作品数:2 被引量:1H指数:1
供职机构:东南大学集成电路学院更多>>
相关领域:电子电信自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 1篇电路
  • 1篇电路设计
  • 1篇电源
  • 1篇电源控制
  • 1篇电源控制器
  • 1篇远程
  • 1篇远程智能
  • 1篇数字温度
  • 1篇数字温度传感...
  • 1篇总线
  • 1篇微处理器
  • 1篇温度传感器
  • 1篇集成电路
  • 1篇集成电路设计
  • 1篇感器
  • 1篇NBTI效应
  • 1篇P-MOSF...
  • 1篇SEP320...
  • 1篇SEP320...
  • 1篇I2C总线

机构

  • 2篇东南大学

作者

  • 2篇周晓明
  • 1篇夏炎

传媒

  • 1篇电脑知识与技...
  • 1篇电子器件

年份

  • 2篇2007
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
ADT75数字温度传感器在基于SEP3203微处理器的远程智能电源控制器中的应用
2007年
ADT75数字温度传感器具有精度高、集成度高、功耗低等特点,在温控系统中有着广泛的应用.本文将介绍ADT75在基于SEP3203微处理器的智能电源控制器的应用,着重说明通过SEP3203 GPIO模拟ADT75 I2C接口时序,实现总线数据的收发.
周晓明
关键词:SEP3203I2C总线
NBTI效应及其对集成电路设计的影响被引量:1
2007年
可靠性设计是现代集成电路设计需要考虑的一个重要问题.对影响电路可靠性的一个最主要效应——P-MOSFET的NBTI效应进行了系统的介绍.给出了不同电压、温度下器件性能随时间变化趋势的最新研究成果.最后介绍了SPICE考虑器件器件退化的电路模拟流程.在器件尺寸日益缩小的今天,这些将成为集成电路设计关注的焦点.
周晓明夏炎
关键词:NBTI尺寸缩小P-MOSFET集成电路设计
共1页<1>
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