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赵权
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35
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中国电子科技集团公司
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电子电信
金属学及工艺
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合作作者
杨洪星
中国电子科技集团公司
张伟才
中国电子科技集团公司
刘春香
中国电子科技集团公司
韩焕鹏
中国电子科技集团公司
杨静
中国电子科技集团公司
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一种半导体材料的激光打标方法
本发明涉及一种半导体材料的激光打标方法,具体步骤包括一、根据半导体材料的直径设计夹具,二、将夹具放到激光打标机的工作台上,激光打标机检测夹具的位置并固定;三、将半导体材料放到夹具上,并使半导体材料的参考面及圆柱面贴紧在数...
杨洪星
陈晨
何远东
赵权
武永超
吕菲
于妍
陈亚楠
一种制备低COP缺陷硅单晶的氮掺杂方法
本发明公开了一种制备低COP缺陷硅单晶的氮掺杂方法。在直拉法硅单晶生长过程中,增加氨气高温离解装置,将高纯氨气通入氨气高温离解装置产生N(g),N(g)溶解于硅熔体,并扩散至单晶生长固、液交界面处,然后随着生长过程的进行...
张颖武
韩焕鹏
赵堃
李明佳
莫宇
张伟才
赵权
刘锋
一种单晶片厚度测量装置
本发明涉及一种单晶片厚度测量装置,该装置包括测试台、测试环、横梁和千分表;测试台一侧向上设有螺纹孔,螺纹孔的下侧为销孔,销孔的侧壁上设有顶丝孔,测试台的另一侧设有支架,测试环的上端面中心位置设有圆柱形凸台用于放置被测单晶...
唐文虎
杨洪星
刘春香
王云彪
陈晨
赵权
一种锗单晶片位错腐蚀检测方法
本发明公开了一种锗单晶片位错腐蚀检测方法,包括以下步骤:将经过抛光的锗单晶片放入由氢氟酸、硝酸和硝酸铜水溶液混合的位错腐蚀液中进行腐蚀,腐蚀结束后,检测其位错密度。本发明对锗单晶片进行位错检测,可以直接对单晶的切割片、研...
佟丽英
赵权
史继祥
王聪
李亚光
文献传递
一种变R值晶片边缘倒角方法
本发明涉及一种变R值晶片边缘倒角方法,步骤为首先进行砂轮设计,针对半导体晶片的厚度设计一个具有三种R值的砂轮,其余槽可以根据需要进行设计;其次将砂轮安装到全自动倒角机上;再次进行边缘初步成型是使用半径为R1的槽对晶片进行...
杨洪星
刘玉岭
范红娜
韩焕鹏
何远东
陈晨
陶术鹤
赵权
杨静
文献传递
在单台抛光机上实现MEMS用大尺寸硅片三步抛光的工艺
本发明提供一种在单台抛光机上实现MEMS用大尺寸硅片三步抛光的工艺,这种方法在一台抛光机上实现粗、中、精抛光三个步骤,各抛光步骤均使用同一种抛光布,不同的抛光步骤使用不同配比及浓度的抛光液,依靠各抛光步骤之间以及各项工艺...
陈晨
杨洪星
索开南
李聪
庞炳远
杨静
王雄龙
张伟才
赵权
文献传递
半导体照明工程用VB-GaAs衬底材料
牛沈军
李仕福
兰天平
王建利
周传新
林健
赵权
刘春香
在现有技术平台上,通过该项目的研究,解决了光电器件用VB-GaAs衬底材料生产中的瓶颈技术的重复性可控技术,诸如:热场设计、控制调试技术,引晶技术,成晶技术,载流子浓度控制技术,抛光片“Epi-Ready”技术等的重复可...
关键词:
关键词:
照明工程
一种腐蚀磷化铟单晶片的腐蚀液及腐蚀方法
本发明公开了一种腐蚀磷化铟单晶片的腐蚀液和腐蚀方法,该腐蚀液的原料包括硫酸、双氧水、水;以体积百分比计算,所述硫酸、所述双氧水和所述水的比例为(4-6):(1-3):(1-2)。本发明还提供了磷化铟单晶片的化学腐蚀方法,...
林健
赵权
刘春香
吕菲
杨洪星
于妍
佟丽英
文献传递
一种铌酸锂基片的黑化方法
本发明公开了一种铌酸锂基片的黑化方法。本方法采用的还原试剂由铁粉和碳酸锂粉末混合而成,铌酸锂基片的黑化步骤为:1、在方形刚玉坩埚中放入铁粉和碳酸锂混合物;2、将铌酸锂基片平放埋入混合物中;3、将方形刚玉坩埚放入热处理炉中...
王雄龙
杨洪星
范红娜
杨静
韩焕鹏
陈晨
赵权
高丹
文献传递
一种制作异形硅单晶抛光片的方法
本发明公开了一种用于制作异形硅单晶抛光片的方法,包括硅单晶抛光片圆片的制备、贴膜、激光划片、揭膜、清洗等步骤。先通过硅单晶生长以及加工制备出硅抛光片,将硅片贴膜后,使用激光划片机根据异形硅抛光片的形状、尺寸要求进行划片。...
陈晨
杨洪星
韩焕鹏
庞炳远
何远东
范红娜
杨静
张伟才
赵权
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